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  특허명 작성자 소속 작성일
1724 일반화된 공간 변조 다중 안테나 시스템에서의 심볼 검파 방법 및 그를 .. 김태환 한국항공대학교 18.11.09
1723 선택적 대기 강도 추정에 기반한 안개 제거 방법 및 장치 김태환 한국항공대학교 18.11.09
1722 개선된 메디안 다크 채널 프라이어에 기반한 안개 제거 방법 및 장치 김태환 한국항공대학교 18.11.09
1721 안개 제거를 위한 대기 강도 추정 장치 및 방법 김태환 한국항공대학교 18.11.09
1720 컨벌루션 신경망 기반의 이진화 연산장치 및 방법 김태환 한국항공대학교 18.11.09
1719 연속제거 극 복호기를 위한 LLR 여분표현기법, 이를 이용한 극 부호 복호.. 김태환 한국항공대학교 18.11.09
1718 저전력 연속제거 극부호기를 위한 포화인식 LLR 처리 장치 및 방법 김태환 한국항공대학교 18.11.09
1717 컨벌루션 신경망의 첫번째 레이어의 개선된 이진화 장치 및 방법 김태환 한국항공대학교 18.11.09
1716 기계 상태 모니터링 장치 및 방법 김태환 한국항공대학교 18.11.09
1715 SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME 강성호 연세대학교 18.11.08
1714 반도체 테스트 프로그램 디버깅과 관련된 테스트 항목들의 우선순위를 결.. 강성호 연세대학교 18.11.08
1713 반도체 적층 테스트를 위한 테스트 경로를 재구성할 수 있는 반도체 테스.. 강성호 연세대학교 18.11.08
1712 반도체 테스트를 지원하는 보스트 모듈 장치 및 그 동작 방법 강성호 연세대학교 18.11.08
1711 압축된 컨트롤 신호를 이용한 효과적인 X 마스킹 장치 및 방법 강성호 연세대학교 18.11.08
1710 다양한 여분 셀들을 이용하여 메모리 뱅크들을 수리하기 위한 장치 및 방법 강성호 연세대학교 18.11.08
1709 스캔 체인의 고장을 진단하는 장치 및 방법 강성호 연세대학교 18.11.08
1708 병렬 테스트를 수행하는 회로 자체 테스트 장치 및 그 동작 방법 강성호 연세대학교 18.11.08
1707 스캔 바이패스를 이용한 스캔 체인 분할 장치 및 그 방법 강성호 연세대학교 18.11.08
1706 3차원 반도체 장치의 테스트 회로 및 그의 테스트 방법 강성호 연세대학교 18.11.08
1705 완화된 임피던스 매칭을 제공하는 송신 장치 및 수신 장치 김병섭 포항공과대학교 18.11.08
 
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