특허명 작성자 소속 작성일 3208 선형성을 가지는 디지털 아날로그 변환기 김수연 동국대학교 24.12.17 3207 부분 다중 샘플링 기법을 적용한 CMOS 이미지 센서용 저 잡음 싱글 슬로.. 김수연 동국대학교 24.12.17 3206 자동 분할 상관 다중 샘플링 기법을 이용한 저잡음 CMOS 이미지 센서 김수연 동국대학교 24.12.17 3205 자동 분할 상관 다중 샘플링 기법을 이용한 저잡음 CMOS 이미지 센서 송민규 동국대학교 24.12.17 3204 부스 알고리즘 기반의 곱셈기를 이용한 CIM 장치 및 방법 김수연 동국대학교 24.12.17 3203 비교기 오프셋 오류를 수정하는 고해상도 파이프라인 아날로그 디지털 변.. 송민규 동국대학교 24.12.17 3202 비교기 기반 로우 버퍼 회로를 이용한 저전력 마스크 회로 송민규 동국대학교 24.12.17 3201 CMOS 이미지 센서 및 그 구동방법 송민규 동국대학교 24.12.17 3200 APPARATUS AND METHOD FOR PRE-ANALYZING MEMORY FAULT INFORMATION 강성호 연세대학교 24.12.11 3199 NON-LINEAR MEMORY FAILURE ANALYSIS METHOD AND MEMORY TEST APPARATUS 강성호 연세대학교 24.12.11 3198 회로의 고장 진단 방법 및 장치 강성호 연세대학교 24.12.11 3197 컨트롤 포인트의 구동 제어 방법 및 장치 강성호 연세대학교 24.12.11 3196 분할 스케줄링을 이용한 테스트 시간 감소 방법 및 장치 강성호 연세대학교 24.12.11 3195 SCAN CORRELATION-AWARE SCAN CLUSTER REORDERING METHOD AND APPARATUS .. 강성호 연세대학교 24.12.11 3194 스캔 셀 배치 방법 및 스캔 셀 배치 장치 강성호 연세대학교 24.12.11 3193 다중 동일한 코어를 위한 하이브리드 테스트 방법 및 장치 강성호 연세대학교 24.12.11 3192 스캔 체인의 다중 고장 진단장치 및 방법 강성호 연세대학교 24.12.11 3191 잠재적 경우 수집 과정을 이용한 빠르고 최적의 빌트-인 리던던시 분석 .. 강성호 연세대학교 24.12.11 3190 고장 위치 기반 고대역폭 메모리의 오류 정정 시스템 및 방법 강성호 연세대학교 24.12.11 3189 고대역폭 메모리의 오류 정정 시스템 및 방법 강성호 연세대학교 24.12.11 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 ▶ 162 통합 검색어
