강의목표
본 강의에서는 설계/검증에서부터 후공정 패키지 테스트에 이르기까지 다양한 단계의 반도체 테스트기술을 소개한다. 고장모델, ATPG, 패턴압축. BIST/BISR, Scan, Boundary Scan 등의 Design-for-Testability 기술을 소개하고, 칩/패키지/보드에서 발생 가능한 high speed 고장 테스트에 필요한 SI(Signal Integrity), PI(Power Integrity) 등 신뢰성 테스트 기술을 살펴본다. 반도체 테스트의 핵심 과정인 ATE를 활용한 DC 파라미터 및 Functional 테스트의 기술과 방법을 종합적으로 살펴본다
강의개요
7월23일(9시) 테스트 패턴 생성 및 압축 기술/ 안진호 호서대학교 교수
반도체 테스트의 개념과 주요 용어 정의, 고장 모델링, 자동 패턴 생성 알고리즘 등을 학습하고, 테스트 패턴과 응답 결과에 대한 다양한 압축 기법에 대하여 소개한다.
7월23일(13시) BIST/강성호 연세대학교 교수
칩 안에 회로를 추가하여 테스트를 수행하는BIST의 개념을 설명하고
memory사용하는MBIST기법과logic에 사용하는LBIST기법을 설명한다
7월24일(9시) Boundary scan및AI chip테스트 기술/한양대학교 박성주교수
보드 수준에서의IEEE 1149.1 boundary scan설계 기술을 소개하고 코아,
모듈, 3D IC대상IEEE표준화 테스트설계 기술을 소개한다. AI칩의
구조를 간단히 설명하고 효율적인 테스트설계 기술을 소개한다.
7월24일(13시) Fundamental of Testing on ATE/이영우 인하대학교 교수
Automatic Test Equipment기반의 반도체 테스트 기술을 소개하고,
Parametric Measurement Unit (PMU)를 활용한DC Parameters Test
방법과 테스트 패턴 및Pin Electronics를 활용한Digital Functional Test
방법을 학습한다.
7월25일(9시) Scan Design and Test Technics/송동섭 호서대학교 교수
Scan design & test에 대한 기본 개념과 설계 수준에서 실리콘 수준까지
효과적인scan test기술을 소개한다.
7월25일(13시) High-speed테스트 기술/김유빈 명지대학교 교수
Chip, Package, Board상 전송선로(transmission line)관련SI(signal
integrity), PI(power integrity)이슈, ATE에서DUT간의parts,
interface에서 발생할 수 있는 전기적 특성 및 테스트 신뢰성 관련
이론을 학습한다.
참고사항
♦ 출석 100%, 퀴즈 3/5문제 통과시 수료증이 발급됩니다.
♦ 수강신청 기간 내에 홈페이지에서 수강 취소해야 정상 취소처리 됩니다.
♦ 1개 교육에 대해 전일 결석시, 추후 3개월간 수강신청이 자동차단됩니다. (취소는 홈페이지에서 직접 가능)
강좌상세
| 일자 |
2024-07-23 |
시간 |
09:00 ~ 12:00 |
강사 |
안진호 교수 호서대학교 |
| 내용 |
○ 반도체 고장의 형태와 모델링 방법
○ 테스트 패턴 생성 기법
○ 테스트 패턴 및 응답 데이터 압축 기법
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| 일자 |
2024-07-23 |
시간 |
13:00 ~ 16:00 |
강사 |
강성호 교수 연세대학교 |
| 내용 |
○BIST의 개념
○Memory BIST
○Logic BIST |
| 일자 |
2024-07-24 |
시간 |
09:00 ~ 12:00 |
강사 |
박성주 교수 한양대학교 |
| 내용 |
○ IEEE 1149.1 Boundary Scan Design
○ IEEE 1500, 1687 등 코아, 칩, 모듈, 3D 테스트설계 기술 |
| 일자 |
2024-07-24 |
시간 |
13:00 ~ 16:00 |
강사 |
이영우 조교수 인하대학교 |
| 내용 |
○Introduction to Semiconductor Testing
○DC Parameters Test
○Digital Functional Test
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| 일자 |
2024-07-25 |
시간 |
09:00 ~ 12:00 |
강사 |
송동섭 부교수 호서대학교 |
| 내용 |
○Scan Design and Test Basics
○Various Scan Design and Test Techniques
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| 일자 |
2024-07-25 |
시간 |
13:00 ~ 16:00 |
강사 |
김유빈 조교수 명지대학교 |
| 내용 |
○ Test Configuration과 high-speed I/O 기본 개념
○ 전송선로, SI/PI 이론
○ High-speed Test 관련 이슈 및 기술적 해법
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강의장소
한양대 에리카캠퍼스 제1공학관 303호
담당자 연락처
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