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Tessent Test Solution 시작하기 - Memory and Logic Testing |
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Part.3 - Tessent™ ATPG and Compression
2022년 7월 6일(수) 오후 2시 |
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Tessent Test Solution 시작하기 - Memory and Logic Testing 웨비나 시리즈에 초대합니다!
Tessent™ TestKompress는 스캔 테스트에 있어 필수 요소인 압축 기술에 대한 IP와 이를 이용한 ATPG를 가능하도록 해 주는 솔루션입니다. 웨비나 시리즈의 세 번째 파트인 본 세션에서는 Tessent™ TestKompress에서 생성하는 IP인 EDT(Embedded Deterministic Test) 회로의 하드웨어 구성 및 특징에 대해 살펴보고, 실제 회로 구현 및 테스트에 있어 유용한 여러 가지 기능들에 대해 소개할 예정입니다.
* 본 웨비나 시리즈는 기술 세션 + 데모 세션으로 진행됩니다. |
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